Электроника


Решения СЕНСОТЕК по автоматизации любых процессов в электронике

В условиях жесткой конкуренции на мировом рынке полупроводниковых устройств их производству требуется все более строгий контроль высокотехнологичных процессов, обеспечивающий максимальное эффективное использование оборудования и высокую производительность. Права на ошибку здесь просто нет.

Компания Cognex предлагает широкий спектр средств обработки изображений, которые используются для определения расположения объектов, обнаружения дефектов, измерения и идентификации деталей, а также для выполнения специализированных функций, характерных для производства полупроводниковых и электронных устройств.

Возможность отслеживать производство солнечных пластин от самого начала до окончательной обработки имеет ключевое значение для рентабельности производства. Считыватели серии In-Sight® 1740 позволяют решить эту задачу путем надежной автоматической идентификации пластин, позволяющей свести к минимуму необходимость в трудовых ресурсах и предотвратить простой инструмента. Считыватели серии In-Sight® 1740 обеспечат полную отслеживаемость производства пластин независимо от того, установлены они на новом оборудовании или являются частью модернизации существующих систем.

Подробнее >>

 

Поиск отраслевых решений:
Отрасль:Бренд:
Результаты поиска:
Детектирование волн на стеклянной пластине
Детектирование волн на стеклянной пластинеНесколько комплектов датчиков CD5-W85 Optex позволяют детектировать волны на прозрачной стеклянной пластине.
(Optex FA)
Детектирование деформации печатных плат ПК
Детектирование деформации печатных плат ПКСтабильное детектирование без влияния цвета за счет процедуры обработки подпикселей и автоматического переключения чувствительности.
(Optex FA)
Детектирование пластин через смотровое отверстие
Детектирование пластин через смотровое отверстиеТочность работы проверяется при детектировании самого манипулятора робота профессиональным многолазерным датчиком смещения CD5-W2000 Optex.

(Optex FA)
Детектирование толщины прозрачной пленки
Детектирование толщины прозрачной пленкиДатчик CD5-LW25 Optex позволяет детектировать толщину прозрачной пленки и листового материала с повторяемостью 0,02 мкм.
(Optex FA)
Детектирование толщины пластинчатого электрода вторичной батареи
Детектирование толщины пластинчатого электрода вторичной батареиОтражательный датчик CD5-W85 Optex может точно детектировать толщину блестящего пластинчатого электрода.
(Optex FA)
Детектирование разбухших лотков в камере
Детектирование разбухших лотков в камереДатчик CD3-250N Optex позволяет через стекло детектировать количество разбухших лотков в камере.
(Optex FA)
Детектирование положения остановки подложки батареи солнечных элементов
Детектирование положения остановки подложки батареи солнечных элементовДатчик SHP Optex позволяет детектировать положение остановки кремниевой подложки.
(Optex FA)
Детектирование контура слитка
Детектирование контура слиткаФункция Tri-CORE датчика CD5 позволяет детектировать диффузно отражающие пластины.
(Optex FA)
Тестирование деформации от ветровой нагрузки на панель с солнечными элементами
Тестирование деформации от ветровой нагрузки на панель с солнечными элементамиДатчик CD3-250N Optex может детектировать с повторяемостью 75 мкм и максимальным диапазоном детектирования 400 мм.
(Optex FA)
Измерение струйного покрытия
Измерение струйного покрытияВ процессе нанесения струйного покрытия на стеклянную подложку датчик CD5-30 Optex позволяет измерять его толщину.
(Optex FA)
Напишите нам:
Спасибо.

Сообщение отправлено.

На ваш Email будет отправлен ответ в течении суток.

Заказать
Отправить URL страницы
'"> Задать вопрос по продукции
Продукция